涂层测厚仪使用时应当遵守的规定

发布者: 发布时间:2021/9/30 17:16:02 阅读:次 【字体:

a)基体金属特性

对于中国磁性研究方法进行涂层测厚仪,标准片的基体材料金属的磁性和表面不同粗糙度,应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度要求相似。

对于涡流涂层测厚仪,标准薄板的贱金属的电气性能应与试件的贱金属相似。

b)基体金属厚度

检查基体金属厚度是否可以超过临界厚度,如果我们没有,可采用3.3)中的某种方式方法研究进行分析校准。

c)边缘效应

不应在利用紧靠一个试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行分析测量。

d)曲率

不应在混凝土试件的弯曲表面上进行测量。

e)读数次数

通常由于涂层厚度计每次读数不完全相同,因此有必要在每个测量区域进行多次读数测量。覆盖层厚度的局部地区差异,也要求我们在任一给定的面积内进行分析多次通过测量,表面粗造时更应发展如此。

f)表面清洁度

在量度前,应先清除表面附着的物料,例如灰尘、油脂及腐蚀物,但切勿清除任何涂层物料。

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