阐述涡流涂镀层测厚仪的原理

发布者: 发布时间:2021/9/30 17:16:53 阅读:次 【字体:

1.涡流覆层测厚仪的基本原理

涡流涂镀层测厚仪的基本管理工作分析原理是,当测头与被测式样进行接触时,测头装置所产生的高频部分电磁场,使置于测头下的金属离子导体可以产生以及涡流,其振幅和相位是导体与测头之间非导电材料覆盖层保护厚度的函数。即该涡流问题产生的交变电磁场会改变测头参数,而测头参数进行变量的大小,并将我们这一电信号数据转换技术处理,即可可以得到被测涂镀层的厚度。

2.影响测量准确度的因素

(1)覆盖层材料厚度影响大于25祄时,其误差与覆盖层厚度可以近似程度成正比;

(2)基体金属的电导率对测量有影响,这与基体金属的成分和热处理方法有关;

(3)任何作为一种测厚仪都要求提高基体金属有一个具有临界厚度,只有时间大于我们这个设计厚度,测量才不会受基体金属厚度的影响;

(4)电涡流测厚仪对图形测量有边缘效应,即图形边缘或内角附近的测量不可靠。

(5)试样的曲率对测量结果有影响,这种环境影响将随曲率半径的减小可以明显地通过增大;

(6)母材和覆盖层的表面粗糙度对测量精度有影响,粗糙度增大,影响增大;

(7)涡流测厚仪对妨碍测头与覆盖层表面进行紧密相关接触的附着提供物质文化敏感,因此可以测量前应清除测头和覆盖层表面的污物;测量时应使测头与测试通过表面之间保持一个恒压垂直接触。

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