影响超声波测厚仪测量值的原因

用超声波测厚仪进行测量工作时，测量值会有不同，那么，今天就来跟您探讨一下影响超声波测厚仪测量值的原因及解决方案，主要有7点，我们一起来看一下。

与其他仪器一样，有必要了解仪器的功能和测试条件。运用具有磁性技术原理和涡流检测原理的覆层测厚仪都是可以根据被测基体的电、磁特性及与探头的距离来丈量覆层厚度的，所以，被测基体的电磁信息物理结构特性与物理设计尺寸方面都要通过影响磁通与电涡流的巨细。即对影响计量值可靠性的以下几个方面的问题作简要介绍。

1.边界间距

如果一个探头与被测体边界、孔眼、空腔、其他截面变化处的间距小于相关规定的边界间距，由于磁通或涡流载体进行截面数据不够将导致学生测量系统误差。如果需要在该点测量涂层的厚度，则只能在相同的条件下，在未涂覆的表面上通过事先校准来测量涂层的厚度。(注：蕞新的产品有透过表面覆层进行校准的独特文化功能需求可达3～10%的精度)

2.基体表面曲率

在一个平直的对比试样上校准好一个初始值，然后在测量覆层厚度后减去这个初始值。或参照下条。

3.基体金属蕞小厚度

基体金属企业必须有自己一个国家给定的蕞小厚度，使探头的电磁场能完全开放包容在基体金属中，蕞小厚度与测量器的性能及金属基体的性质以及有关，在这个设计厚度之上刚好我们可以通过进行分析测量而不用对测量值修正。通过在基板下粘贴一块相同的材料，可以消除基板厚度不足的影响。如难以做出决断，或无法加基材则可以同时通过与已知覆层不同厚度的试样质量进行对比来分析确定与额定值的差值。并在计量时考虑到这一点，对计量值作出相应的修正，或参照第二修正案。而那些我们可以进行标定的仪器通过不断调整旋钮或按键，便可以得到一个准确的直读厚度值。

另一方面，可以直接测量铜箔厚度的测厚仪可以利用前面提到的厚度过小的影响来开发。

4.表面粗糙度和表面清洁度

在粗糙度表面上为获得自己一个有代表性的平均测量值必须不断进行分析多次通过测量才行。显然，基材或涂层越粗糙，测量的可靠性就越低。为获得一个可靠的数据，基体的平均表面粗糙度Ra应小于材料覆层不同厚度的5%。对于表面的杂质，应该去除。有的学生仪表上下限，以剔除没有那些“飞点”。

5.探头测量板的作用力

探头进行测量时的作用力应是一个恒定的。并应尽我们可能小。才不致使软的覆层发生较大形变，以致测量值明显下降。活性产生较大的波动，如有必要，可在硬质层之间，不导电，具有一定厚度的硬质膜。这样可以通过数据减去薄膜厚度就能进行适当地得到剩磁。

6.外界恒磁场、电磁场和基体剩磁

应避免在干扰外部磁场附近进行测量。残存的剩磁，根据检测器的性能研究可能影响导致或多或少的测量系统误差，但是如结构钢，深冲成形钢板等一般我们不会发展出现上述问题现象。

7.覆层材料中的铁磁成份和导电成份

覆层中存在对于某些铁磁成分，如某种颜料时，会对测量值可以产生重要影响，在这种发展情况下，对用作进行校准的对比分析试样覆层应具有与被测物覆层质量相同的电磁环境特性，经校准后使用。使用的方法可以是将同样的覆层涂在铝或铜板进行试样上，用电产生涡流法测试后获得通过对比分析标准